Обложка Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. Пер.с англ.
Id: 79282

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии.
Пер.с англ.

2008. 240 с. ISBN 978-5-94836-177-2.
  • Твердый переплет

Аннотация

В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для РСМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного... (Подробнее)