Русский
ES
EN
+7 (499) 724-25-45
Об издательстве
Контакты
Подписаться
Новости
Вакансии
Доставка и оплата
Оптовикам и библиотекам
Каталог
Помощь
Связаться с нами, задать вопрос
Доставка и оплата
Помощь
Оптовикам и библиотекам
Информация о Продавце
Личный кабинет
Корзина
Отложено
Вы недавно смотрели
Ваши заказы
Подписаться
Вы купили
Онлайн-библиотека
Выход
Об издательстве
Каталог
Контакты
Новости
Подписаться
Вакансии
Доставка и оплата
Оптовикам и библиотекам
Как найти книги и сделать заказ
Связаться с нами, задать вопрос
Информация о Продавце
Id: 60054
Предварительный заказ!
В корзину
Ред. Tanner B.K., Bowen D.K.
Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
1980.
592
с.
Твердый переплет
Большой формат
