Розин К.М., Гусев Э.Б. Методы описания кристаллических СТРУКТУР:
Практическое руководство по кристаллографии и кристаллохимии. Изд. 2

---

Предисловие к первому изданию				5
Часть первая. Методы геометрической структурной кристаллографии				7
Глава 1. Описание элементарной ячейки кристаллической структуры				7
Основные определения				7
Теорий метода и сводные таблицы				10
Решение типовых задач и упражнения				18
Глава 2. Определение плоскостей скользящего отражения и винтовых осей симметрии в кристаллических структурах				26
Основные определения				27
Теория метода и сводные таблицы				28
Решение типовых задач и упражнения				33
Глава 3. Определение пространственной группы симметрии кристаллической структуры				40
Основные определения				40
Теория метода и.сводные таблицы				41
Решение типовых задач и упражнения				47
Глава 4. Определение правильных систем точек				52
Основные определения				53
Теория метода				55
Решение типовых задач и упражнения				62
Глава 5. Определение базиса кристаллической структуры				66
Основные определения				67
Теория метода и сводные таблицы				68
Решение типовых задач и упражнения				73
Глава 6. Определение символов атомных плоскостей и атомных рядов в кристаллических структурах				85
Основные определения				85
Теория метода				87
Решение типовых задач и упражнения				88
Глава 7. Метод обратной решетки				94
Основные определения				95
Теория метода				96
Решение типовых задач и упражнения				99
Часть вторая. Методы кристаллохимии				110
Глава 1. Расчет рентгеновской и ретикулярной плотности кристаллических структур				110
Основные определения				110
Теория метода				111
Решение типовых задач и упражнения				112
Глава 2. Расчет некоторых параметров кристаллических структур				117
Основные определения				120
Теория метода и сводные таблицы				121
Решение типовых задач и упражнения				127
Глава 3. Описание кристаллических структур с помощью теории плотнейших шаровых упаковок				131
Основные определения				132
Теория метода				135
Решение типовых задач и упражнения				136
Глава 4. Описание кристаллических структур с помощью метода координационных многогранников (по Л. Полингу и Н. В. Белову)				143
Основные определения и теория				144
Решение типовых задач и упражнения				147
Глава 5. Методы описания эпитаксиальных структур				151
Основные определения				152
Теория метода				153
Решение типовых задач и упражнения				155
Сводка формул по структурной кристаллографии				162
Рекомендательный библиографический список				166
Предметный указатель				167

---

В 1982 г. вышло наше первое пособие по кристаллографии, посвященное различным методам описания кристаллических многогранников1. Настоящее пособие представляет собою логическое завершение сводки методов описания кристаллов и посвящено методам описания кристаллических структур. Руководство составлено таким образом, чтобы читатель мог познакомиться с сущностью большинства представленных здесь методов, не обращаясь к первому пособию, тем более, что подавляющая часть этих методов представляет самостоятельный интерес.

Вряд ли будет преувеличением сказать о том, что до настоящего времени в учебной литературе фактически не было пособий практического характера по структурной кристаллографии и кристаллохимии за немногими исключениями2-4. Об этом пишет П.М. Зоркий: «В учебной литературе по кристаллохимии и смежным дисциплинам задачи практически отсутствуют»3. В этом смысле настоящее Руководство в какой-то мере восполняет указанный пробел.

Во-первых, оно содержит краткие описания большинства наиболее употребительных методов кристаллографии и кристаллохимии.

Во-вторых, практическому применению каждого из методов существенно помогают Методические указания, сопровождающие краткую сводку теоретических основ метода.

В-третьих, описание каждого метода сопровождается детальным разбором нескольких типовых задач (в книге их около пятидесяти).

В-четвертых, формированию прочных практических навыков способствуют многочисленные упражнения (в книге их более тысячи), которые могут быть использованы как при индивидуальной работе, так и при проведении групповых занятий. Наконец, в-пятых, для контроля усвоения учебного материала каждый раздел содержит перечень контрольных вопросов. Таким образом, отличительной особенностью настоящего Руководства является его ярко выраженная практическая направленность.

Наряду с изложением традиционных методов впервые в учебной литературе приведены специфические методы описания эпитаксиальных структур, получивших за последние годы широкое распространение в полупроводниковой электронике, вычислительной технике, в квантовой электронике и других новейших отраслях техники.

Серьезное внимание авторами уделено методу обратной решетки, который нашел широкое применение в фундаментальных исследованиях (в рентгенографии, электронографии, физике твердого тела), но, к сожалению, часто вызывает затруднения при его изучении.

В Руководство включены некоторые методы расчета кристаллических структур (расчет параметров кристаллической структуры с помощью ионных радиусов, расчет рентгеновской и ретикулярной плотностей), которые применяются в специальной и научной литературе и обычно вызывают у слушателей глубокий познавательный интерес, раскрывая для них фундаментальное значение кристаллохимии и ее методов для изучения атомного строения вещества. Авторы пытались показать читателю «живые» кристаллические структуры, которые отзываются на изменение внешних условий и перестраиваются под влиянием изменений температуры и давления (например, в гл. 2, части второй).

1985 г.

---