Предисловие к первому изданию | 3
|
Глава 1. Методы исследования поликристаллических образцов | 6
|
1.1. Рентгеновские спектры и выбор излучения | 6
|
1.2. Принцип устройства рентгеновских установок для структурного и фазового анализа | 13
|
1.3. Рентгеновские камеры для съемки поликристаллнческих образцов | 16
|
1.4. Рентгеновские дифрактометры | 21
|
Литература | 28
|
Глава 2. Методика рентгенофазового анализа | 30
|
2.1. Промер и расчет рентгенограммы порошка | 30
|
2.2. Идентификация вещества по межплоскостным расстояниям | 39
|
2.3. Автоматизация рентгенофазового анализа | 47
|
2.4. Количественный фазовый анализ | 53
|
Литература | 55
|
Глава 3. Элементы кристаллографии | 57
|
3.1. Решетки Браве | 57
|
3.2. Элементы симметрии. Пространственные группы | 59
|
3.3. Индексы плоскости. Понятие об обратной решетке | 61
|
Литература | 63
|
Глава 4. Индицирование рентгенограмм порошка | 64
|
4.1. Зависимость межплоскостных расстояний от симметрии и параметров решетки | 64
|
4.2. Индицирование рентгенограмм кубических веществ | 69
|
4.3. Индицирование дебаеграмм в случае средних сингоний | 72
|
4.4. Аналитический метод индицирования дебаеграмм ромбических кристаллов (метод Хесса-Липсона) | 79
|
4.5. Индицирование дебаеграмм методом Ито | 83
|
4.6. Метод подбора изоструктурного соединения | 90
|
4.7. Применение метода гомологии при ин лидировании дебаеграмм | 93
|
4.8. Политипия. Интерпретация рентгенограмм слоистых структур со сложным характером чередования слоев | 121
|
4.9. Индицирование рентгенограмм неоднофазных образцов | 126
|
Литература | 130
|
Глава 5. Прецизионное определение параметров решетки | 131
|
5.1. Источники ошибок в определении межплоскостных расстояний | 132
|
5.2. Зависимость точности определения α от дифракционного угла | 134
|
5.3. Графическая экстраполяция | 135
|
5.4. Метод наименьших квадратов | 137
|
5.5. Термостатирование | 144
|
5.6. Поправка на преломление | 145
|
Литература | 146
|
Глава 6. Гомология в неорганической химии | 147
|
6.1. Стехиометрический состав неорганических соединений | 148
|
6.2. Структурная основа гомологии в неорганической химии | 150
|
6.3. Гомологические ряды с блочными структурами | 151
|
6.4. Образование гомологических рядов вследствие упорядочения изолированных дефектов | 160
|
6.5. Твердые растворы или гомологические ряды соединений? | 164
|
Литература | 174
|
Глава 7. Метод порошка в рентгеноструктурном анализе | 175
|
7.1. Интенсивности линий на рентгенограммах порошка | 176
|
7.2. Возможные области применения метода порошка в структурном анализе | 186
|
7.3. Субструктура и сверхструктура. Преобразование координат точек при переходе к новой элементарной ячейке | 188
|
7.4. Некоторые примеры определения структур методом порошка | 191
|
Литература | 204
|
Глава 8. Уточнение модели кристаллической структуры | 205
|
8.1. Методы площадей и Ритвелда | 207
|
8.2. Комбинированный метод | 212
|
8.3. Пример уточнения структуры | 215
|
8.4. Уточнение структуры на основе минимизации энергии кристаллической решетки | 221
|
Литература | 227
|
Глава 9. Рентгенографическое исследование несовершенств структуры | 228
|
9.1. Ощюделение размеров кристаллитов и микронапряжений | 230
|
9.2. Статические искажения | 238
|
9.3. Некоторые типы протяженных дефектов | 240
|
Литература | 244
|
Глава 10. Рентгенографическое исследование аморфных веществ, растворов и расплавов | 245
|
10.1. Рассеяние рентгеновского излучения одно- и многоатомными газами | 247
|
10.2. Рентгенографическое изучение строения растворов | 249
|
10.3. Кривая радиального распределения и ее интерпретация | 250
|
Литература | 252
|