Экспериментальными, аналитическими и численными методами исследуется стойкость сверхвысокочастотных полупроводниковых приборов и радиоприемных устройств дециметрового и сантиметрового диапазонов длин волн к направленным и случайным импульсным электромагнитным воздействиям различной частоты, длительности и формы. Рассмотрены особенности воздействия сверхширокополосного радиочастотного излучения. Оценена дальность поражения широкополосных и узкополосных... (Подробнее)
