Предисловие .......................................................................................................... 10 Глава 1. Основные понятия, единицы измерения, атом Бора ..................... 13 1.1. Введение ..................................................................................................... 13 1.2. Терминология ............................................................................................. 14 1.3. Характерные энергии, единицы измерения и разновидности частиц .. 19 1.4. Корпускулярно-волновой дуализм и периодичность кристаллической решетки ......................................................................... 22 1.5 Модель Бора ................................................................................................ 23 Задачи ................................................................................................................. 25 Литература ......................................................................................................... 26 Глава 2. Атомные столкновения и спектрометрия обратного рассеяния ............................................................................. 27 2.1. Введение ..................................................................................................... 27 2.2. Кинематика упругих столкновений.......................................................... 28 2.3. Спектрометрия резерфордовского обратного рассеяния ....................... 32 2.4. Поперечное сечение рассеяния и прицельный параметр ....................... 32 2.5. Рассеяние в центральном поле ................................................................. 35 2.6. Поперечное сечение рассеяния: задача двух тел .................................... 38 2.7. Отклонения от законов резерфордовского рассеяния при низких и высоких энергиях частиц ........................................................................ 40 2.8. Рассеяние ионов низких энергий ............................................................. 43 2.9. Спектрометрия атомов отдачи, вылетающих вперед ............................. 45 2.10. Преобразования при переходе от системы отсчета, связанной с центром масс, к лабораторной системе отсчета .................................. 47 Задачи ................................................................................................................. 51 Литература ......................................................................................................... 52 Глава 3. Получение распределений по глубине с помощью обратного рассеяния с использованием измерений потерь энергии легких ионов .............................................................. 53 3.1. Введение ..................................................................................................... 536 Оглавление 3.2. Общие закономерности и единицы измерения для потерь энергии ..... 53 3.3. Потери энергии легких ионов высоких энергий в твердых телах ........ 55 3.4. Потери энергии в химических соединениях и правило Брэгга ............. 61 3.5. Ширина энергетического спектра в обратном рассеянии ...................... 62 3.6. Форма спектра обратного рассеяния ........................................................ 65 3.7. Получение распределений по глубине с помощью резерфордовского рассеяния ...................................................................... 66 3.8. Разрешение по глубине и флуктуации потерь энергии .......................... 68 3.9. Анализ распределения водорода и дейтерия по глубине ....................... 73 3.10. Пробеги ионов водорода и гелия ............................................................ 75 3.11.. Распыление и пределы чувствительности ............................................ 77 3.12. Перечень формул и соотношений рассеяния ........................................ 79 Задачи ................................................................................................................. 79 Литература ......................................................................................................... 81 Глава 4. Профили распыления и масс-спектроскопия вторичных ионов .................................................................................. 83 4.1. Введение ..................................................................................................... 83 4.2. Общие понятия о процессе распыления ионной бомбардировкой ....... 85 4.3. Ядерные потери энергии ........................................................................... 87 4.4. Выход распыления ..................................................................................... 93 4.5. Масс-спектроскопия вторичных ионов (ВИМС-SIMS) ......................... 95 4.6. Масс-спектроскопия вторичных нейтральных частиц (ВНМС-SNMS) 102 4.7. Избирательное распыление и анализ распределения по глубине ......... 103 4.8. Уширение внутренней границы раздела и ионное перемешивание ..... 106 4.9. Статистическая модель атома Томаса – Ферми ...................................... 108 Задачи ................................................................................................................. 110 Литература ......................................................................................................... 111 Глава 5. Каналирование ионов .......................................................................... 113 5.1. Введение ..................................................................................................... 113 5.2. Каналирование в монокристаллах ........................................................... 113 5.3. Определение расположения примесей в кристаллической решетке .... 118 5.4. Распределение потока каналированных частиц ...................................... 119 5.5. Поверхностное взаимодействие в двухатомной модели ........................ 123 5.6. Поверхностный пик ................................................................................... 127 5.7. Затенение подложки Ag (111) эпитаксиальным Au ................................ 130 5.8. Эпитаксиальный рост ................................................................................ 133 5.9. Анализ тонких пленок ............................................................................... 134 Задачи ................................................................................................................. 135 Литература ......................................................................................................... 1377 Оглавление Глава 6. Электрон-электронные взаимодействия и чувствительность анализа с помощью электронной спектроскопии к глубине ........ 138 6.1. Введение ..................................................................................................... 138 6.2. Анализ энергии с помощью методов электронной спектроскопии ...... 138 6.3. Глубина выхода электронов и объем исследуемой области вещества .. 140 6.4. Неупругие электрон-электронные столкновения ................................... 142 6.5. Поперечное сечение ударной электронной ионизации .......................... 144 6.6. Плазмоны .................................................................................................... 146 6.7. Средняя длина свободного пробега электрона ....................................... 147 6.8. Влияние морфологии тонких пленок на уменьшение выхода электронов ...................................................................................... 149 6.9. Пробег электронов в твердых телах ......................................................... 154 6.10. Спектроскопия энергетических потерь электронов (СЭПЭ-EELS) .... 157 6.11. Тормозное излучение ............................................................................... 161 Задачи ................................................................................................................. 164 Литература ......................................................................................................... 165 Глава 7. Дифракция рентгеновских лучей ...................................................... 166 7.1. Введение ..................................................................................................... 166 7.2. Закон Брэгга в вещественном пространстве ........................................... 167 7.3. Измерение коэффициента теплового расширения .................................. 171 7.4. Определение текстуры в тонких поликристаллических пленках ......... 174 7.5. Измерение деформаций в эпитаксиальных слоях................................... 176 7.6. Кристаллическая структура ...................................................................... 181 7.7. Разрешенные отражения и относительные интенсивности ................... 183 Задачи ................................................................................................................. 191 Литература ......................................................................................................... 193 Глава 8. Дифракция электронов ....................................................................... 194 8.1. Введение ..................................................................................................... 194 8.2. Обратное пространство ............................................................................. 195 8.3. Уравнения Лауэ .......................................................................................... 200 8.4. Закон Брэгга ................................................................................................ 201 8.5. Построение сферы Эвальда ...................................................................... 203 8.6. Электронный микроскоп ........................................................................... 204 8.7. Расшифровка дифрактограмм ................................................................... 211 Задачи ................................................................................................................. 217 Литература ......................................................................................................... 219 Глава 9. Поглощение фотонов в твердых телах и расширенная рентгеновская спектроскопия поглощения тонкой структуры (РРСПТС-EXAFS) ............................................................. 220 9.1. Введение ..................................................................................................... 2208 Оглавление 9.2. Уравнение Шредингера ............................................................................. 221 9.3. Волновые функции .................................................................................... 223 9.4. Квантовые числа, электронные конфигурации и обозначения ............. 226 9.5. Вероятность переходов .............................................................................. 228 9.6. Фотоэлектрический эффект в приближении прямоугольной ямы ........ 229 9.7. Вероятность фотоэлектронного перехода для водородоподобного атома .................................................................. 231 9.8. Поглощение рентгеновского излучения .................................................. 233 9.9. Расширенная рентгеновская спектроскопия поглощения тонкой структуры (РРСПТС-EXAFS) ...................................................... 238 9.10. Нестационарная теория возмущений ..................................................... 241 Задачи ................................................................................................................. 247 Литература ......................................................................................................... 248 Глава 10. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС-XPS) ... 249 10.1. Введение ................................................................................................... 249 10.2. Экспериментальные методики ............................................................... 250 10.3. Кинетическая энергия фотоэлектронов ................................................. 254 10.4. Энергетический спектр фотоэлектронов ............................................... 256 10.5. Энергия связи и влияние конечных состояний ..................................... 258 10.6. Сдвиги энергии связи – химические сдвиги ......................................... 260 10.7. Количественный анализ .......................................................................... 262 Задачи ................................................................................................................. 264 Литература ......................................................................................................... 265 Глава 11. Излучательные переходы и электронный микроанализ ............ 267 11.1. Введение ................................................................................................... 267 11.2. Обозначения в рентгеновской спектроскопии ...................................... 268 11.3. Дипольные правила отбора ..................................................................... 269 11.4. Электронный микроанализ ..................................................................... 270 11.5. Скорости переходов для спонтанного излучения ................................. 273 11.6. Скорость перехода для Kα излучения никеля ....................................... 274 11.7. Электронный микроанализ: количественные данные .......................... 276 11.8. Рентгеновская эмиссия, возбуждаемая частицами (РЭВЧ-PIXE) ........ 280 11.9. Вывод формулы вероятности излучательных переходов ..................... 283 11.10. Вычисление отношения K β /K α .............................................................. 285 Задачи ................................................................................................................. 287 Литература ......................................................................................................... 288 Глава 12. Безызлучательные переходы и Оже-электронная спектроскопия ................................................. 290 12.1. Введение ................................................................................................... 290 12.2. Оже-переходы ........................................................................................... 2919 Оглавление 12.3. Выход Оже-электронов и выход флуоресценции ................................. 299 12.4. Ширина атомных уровней и времена жизней ....................................... 301 12.5. Оже-электронная спектроскопия ............................................................ 302 12.6. Количественный анализ .......................................................................... 306 12.7. Получение профилей распределения концентрации по глубине с помощью Оже-спектроскопии ............................................................. 308 Задачи ................................................................................................................. 311 Литература ......................................................................................................... 313 Глава 13. Ядерные методики: активационный анализ и мгновенный анализ наведенной радиоактивности .................. 314 13.1. Введение ................................................................................................... 316 13.2. Значения Q и кинетические энергии ...................................................... 318 13.3. Радиоактивный распад ............................................................................ 322 13.4. Закон радиоактивного распада ............................................................... 325 13.5. Получение радионуклидов ...................................................................... 326 13.6. Активационный анализ ........................................................................... 327 13.7. Мгновенный анализ наведенной радиации ........................................... 329 Задачи ................................................................................................................. 336 Литература ......................................................................................................... 337 Глава 14. Сканирующая зондовая микроскопия ........................................... 339 14.1. Введение ................................................................................................... 339 14.2. Сканирующая туннельная микроскопия ............................................... 342 14.3. Атомно-силовая микроскопия ................................................................ 348 Литература ......................................................................................................... 355 Приложения ....................................................................................................... 356 |
2023. 720 с. Твердый переплет. 21.9 EUR
Книга «Зияющие высоты» – первый, главный, социологический роман, созданный интеллектуальной легендой нашего времени – Александром Александровичем Зиновьевым (1922-2006), единственным российским лауреатом Премии Алексиса де Токвиля, членом многочисленных международных академий, автором десятков логических... (Подробнее) URSS. 2024. 704 с. Твердый переплет. 26.9 EUR
В новой книге профессора В.Н.Лексина подведены итоги многолетних исследований одной из фундаментальных проблем бытия — дихотомии естественной неминуемости и широчайшего присутствия смерти в пространстве жизни и инстинктивного неприятия всего связанного со смертью в обыденном сознании. Впервые... (Подробнее) URSS. 2024. 800 с. Мягкая обложка. 37.9 EUR
ВЕРСАЛЬ: ЖЕЛАННЫЙ МИР ИЛИ ПЛАН БУДУЩЕЙ ВОЙНЫ?. 224 стр. (ТВЁРДЫЙ ПЕРЕПЛЁТ) 11 ноября 1918 года в старом вагоне неподалеку от Компьеня было подписано перемирие, которое означало окончание Первой мировой войны. Через полгода, 28 июня 1919 года, был подписан Версальский договор — вердикт, возлагавший... (Подробнее) URSS. 2024. 344 с. Мягкая обложка. 18.9 EUR
Мы очень часто сталкиваемся с чудом самоорганизации. Оно воспринимается как само собой разумеющееся, не требующее внимания, радости и удивления. Из случайно брошенного замечания на семинаре странным образом возникает новая задача. Размышления над ней вовлекают коллег, появляются новые идеи, надежды,... (Подробнее) 2023. 696 с. Твердый переплет в суперобложке. 119.9 EUR
Опираясь на новейшие исследования, историк Кристофер Кларк предлагает свежий взгляд на Первую мировую войну, сосредотачивая внимание не на полях сражений и кровопролитии, а на сложных событиях и отношениях, которые привели группу благонамеренных лидеров к жестокому конфликту. Кларк прослеживает... (Подробнее) URSS. 2023. 272 с. Мягкая обложка. 15.9 EUR
Настоящая книга посвящена рассмотрению базовых понятий и техник психологического консультирования. В ней детально представлены структура процесса консультирования, описаны основные его этапы, содержание деятельности психолога и приемы, которые могут быть использованы на каждом из них. В книге... (Подробнее) URSS. 2024. 576 с. Мягкая обложка. 23.9 EUR
Эта книга — самоучитель по военной стратегии. Прочитав её, вы получите представление о принципах военной стратегии и сможете применять их на практике — в стратегических компьютерных играх и реальном мире. Книга состоит из пяти частей. Первая вводит читателя в мир игр: что в играх... (Подробнее) URSS. 2024. 248 с. Мягкая обложка. 14.9 EUR
В книге изложены вопросы новой области современной медицины — «Anti-Ageing Medicine» (Медицина антистарения, или Антивозрастная медицина), которая совмещает глубокие фундаментальные исследования в биомедицине и широкие профилактические возможности практической медицины, а также современные общеоздоровительные... (Подробнее) URSS. 2024. 240 с. Твердый переплет. 23.9 EUR
Предлагаемая вниманию читателей книга, написанная крупным биологом и государственным деятелем Н.Н.Воронцовым, посвящена жизни и творчеству выдающегося ученого-математика, обогатившего советскую науку в области теории множеств, кибернетики и программирования — Алексея Андреевича Ляпунова. Книга написана... (Подробнее) 2023. 416 с. Твердый переплет. 19.9 EUR
Вам кажется, что экономика — это очень скучно? Тогда мы идем к вам! Вам даже не понадобится «стоп-слово», чтобы разобраться в заумных формулах — их в книге нет! Все проще, чем кажется. Автор подаст вам экономику под таким дерзким соусом, что вы проглотите ее не жуя! Вы получите необходимые... (Подробнее) |