Обложка Лич Р. Инженерные основы измерений нанометровой точности (пер. с англ.)
Id: 168397
784 руб.

Инженерные основы измерений нанометровой точности (пер.
с англ.)

2012. 400 с. ISBN 978-5-91559-119-5.
  • Твердый переплет

Аннотация

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое™ измерений длины с помощью лазерной ...(Подробнее)интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.

Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей