Обложка Морис Ф., Мени Л., Тиксье Р. Микроанализ и растровая электронная микроскопия
Id: 128669

Микроанализ и растровая электронная микроскопия

1985. 392 с. Букинист. Состояние: 4. Форзац немного надорван снизу. Есть погашенная печать расформированной библиотеки.
  • Твердый переплет

Аннотация

Изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже-спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ.