Приведена классификация приборов некогерентной оптоэлектро-ники и определена оптимальная система параметров. Рассмотрены методы измерения параметров и основы проектирования информационно-измерительных комплексов, управляемых ЭВМ. Обсуждено метрологическое обеспечение разработок и производства приборов некогерентной оптоэлектроники. Разработаны научно-методические основы метрологического обеспечения предприятия.
Для специалистов, работающих в различных... (Подробнее)
