Обложка Елистратов А.М. Прямые методы исследования дефектов в кристалах: Пер. с англ.
Id: 3650

Прямые методы исследования дефектов в кристалах:
Пер. с англ.

1965. 352 с. Букинист. Состояние: 4. .
  • Твердый переплет

Аннотация

Книга представляет собой тематический сборник работ ведущих зарубежных исследователей, посвященный выявлению дефектов в кристаллах методами трансмиссионной электронной микроскопии и рентгеновской дифракционной топографии. Эти наиболее универсальные и объективные методы исследования дефектов находят все более широкое применение в научных и промышленных лабораториях нашей страны, занятых вопросами физики и химии твердого тела.

Поэтому книга ...(Подробнее)будет полезна в первую очередь для физиков и инженеров, разрабатывающих методы контроля совершенства кристаллов, а также работающих в области полупроводниковой электроники, физического металловедения, методов исследования и производства новых кристаллических материалов. Особенно ценной она будет для работников рентгеновских и электронно-микроскопических лабораторий. Многие работы, имеющиеся в сборнике, могут служить пособием для аспирантов и студентов, специализирующихся в области изучения и применений рентгеновской и электронной дифракции. Сборник представляет также интерес для всех тех, кто занимается проблемами теоретической и экспериментальной физики твердого тела.