Для корректной работы этого сайта вам необходимо включить Javascript. Зайдите в настройки браузера и активируйте Javascript.
Изложены основные разделы физики полупроводников, освещены области их применения и рассмотрены наиболее распространенные методы измерения параметров полупроводниковых материалов. Изложение вопросов проведено с точки зрения связи свойств материалов с характером и концентрацией различных дефектов в кристалле, т.е. с концентрацией примесей, дислокаций, вакансий. Приведены контрольные вопросы и задачи. Список лит.: 67 назв.
Физика > Физика твердого тела. Кристаллография > Физика полупроводников
Книги с грифом > Министерство образования СССР
Техника > Радиоэлектроника. Оптоэлектроника > Электроника ; Квантовая электроника. Оптика
Учебные издания > Введение...