URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Козлов И.Г. Современные проблемы электронной спектроскопии. (Электронные спектрометры и их применение)
Id: 23810
 
799 руб.

Современные проблемы электронной спектроскопии. (Электронные спектрометры и их применение)

1978. 248 с. Твердый переплет. Букинист. Состояние: 4+. Есть погашенная библиотечная печать.

 Аннотация

В книге кратко рассмотрены основные процессы взаимодействия излучений с веществом, в частности сильноточных релятивистских электронных пучков с плазмой, описаны методы определения строения поверхностей твердых тел по энергетическим спектрам эмитти-рованных или рассеянных ими электронов. Дан метод оценки поглощенной дозы при облучении твердых тел и биологических объектов электронами.

Значительная часть книги посвящена технике эксперимента, описанию методов энергетического анализа потоков электронов, конструкций наиболее современных спектрометров, их теории, схем электрического питания, градуировке.

В книге также приведены некоторые результаты энергетического анализа радиоэлектронных потоков, сильноточных релятивистских электронных пучков, прошедших сквозь плазму.

Книга рассчитана на широкий круг исследователей, студентов старших курсов вузов, специализирующихся в области экспериментальной физики и физики твердого тела. Она может оказаться полезной инженерам, занимающимся разработкой электронных приборов, исследователям в области электронно-лучевой обработки материалов.


 Оглавление

Предисловие............................ 3

Глава 1. Введение........................ 4

§ 1.1. О некоторых проблемах электронной спектроскопии 4

§ 1.2. Взаимодействие ионизирующих излучений с веществом...................... 8

1.2.1. Взаимодействие фотонного излучения с веществом 9

1.2.2. Взаимодействие заряженных частиц с веществом 11

1.2.3. Оценка мощности поглощенной дозы при электронном облучении.................. 12

§ 1.3 Характеристики энергоанализаторов. Терминология. 15

§ 1.4. Калибровка энергоанализаторов......... 21

ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИЕ ЭНЕРГОАНАЛИЗАТОРЫ И ИХ ПРИМЕНЕНИЕ 24

Глава 2. Метод задерживающего потенциала........... 24

§ 2.1. Энергоанализатор с однородным полем...... 24

2.1.1. Экспериментальная конструкция. Электрическая схема...................... 28

2.1.2. Влияние продольного фокусирующего магнитного поля...................... 32

§ 2.2. Сферический конденсатор с тормозящим полем.. 34

Глава 3. Цилиндрический дефлектор............... 38

§ 3.1. Движение электронов в поле дефлектора...... 38

§ 3.2. Фокусировка по направлению......... 41

§ 3.3. Дисперсия по энергии............. 42

§ 3.4. Выбор потенциалов цилиндров дефлектора.... 43

§ 3.5. Вариант конструкции прибора. Методика исследования. Разрешающая сила. Светосила...... 44

Глава 4. Конденсатор Юза --- Рожанского............ 47

§ 4.1. Движение электронов в поле анализатора.... 47

§ 4.2. Фокусировка частиц по направлению. Влияние

пространственного заряда............. 50

§ 4.3. Дисперсия частиц по энергии. Влияние пространственного заряда................. 51

§ 4.4. Методика исследования. Разрешение спектрометра

Светосила..................... 52

§ 4.5. Экспериментальные конструкции и схемы электрического питания конденсатора Юза --- Рожанского 53

Глава 5. Сферический дефлектор.................59

§ 5.1. Электронно-оптические характеристики анализатора.......................59

§ 5.2. Разрешающая сила и светосила прибора. Экспериментальные конструкции.............62

Глава 6. Анализатор на основе одиночной электростатической линзы 65

§ 6.1. Движение электронов в линзе.......... 65

§ 6.2. Фокусирующие и дисперсионные свойства поля 70 § 6.3. Конструкция прибора и экспериментальная установка...................... 72

Глава 7. Энергоанализатор с плоским электростатическим зеркалом 76

§7.1. Фокусировка и дисперсия электронов в поле зеркала 76

§7.2. Выбор размеров анализатора. Методика исследования 78

§ 7.3. Влияние пространственного заряда........ 80

§ 7.4. Влияние выноса источника. К расчету плоского

зеркала с пространственной фокусировкой..... 83

§ 7.5. Экспериментальная конструкция. Электрическая

схема....................... 87

§ 7.6. Математическая обработка экспериментальных

кривых..................... 94

§ 7.7. Калибровка спектрометра............ 96

Глава 8. Спектрометры на основе цилиндрических электростатических

зеркал.........................97

§ 8.1. Движение частиц в поле зеркала.........97

§ 8.2. Фокусировка первого порядка по направлению.. 100

§ 8.3. Дисперсия по энергии..............102

§ 8.4. Экспериментальные конструкции спектрометров

с фокусировкой первого порядка. Градуировка.. 103 § 8.5. Цилиндрическое зеркало с фокусировкой второго

порядка.....................107

§ 8.6. О применении эллиптических, сферических и гиперболических зеркал..............118

ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕРМОЭЛЕКТРОННЫХ ПОТОКОВ 120

Глава 9. Измерение энергий электронов вдоль поверхностей термокатодов.........................120

Глава 10. Некоторые результаты исследований структуры протяженных электронных потоков...............129"

МАГНИТНЫЕ АНАЛИЗАТОРЫ И ИХ ПРИМЕНЕНИЕ 138

Глава 11. Анализаторы с однородными поперечными полями.... 138

§ 11.1. Полукруговая фокусировка........... 138

§ 11.2. Влияние выноса источника........... 142

§ 11.3. Влияние пространственного заряда....... 144

§ 11.4. Экспериментальная конструкция........ 145

Глава 12. Анализаторы с неоднородными поперечными полями.. 146

§ 12.1. Идея фокусировки............... 146

§ 12.2. Неоднородное аксиально-симметричное поле... 147

§ 12.3. Вертикальная фокусировка пучка........ 148

§ 12.4. Спектрометр с двойной фокусировкой....... 150

§ 12.5. Плоские анализаторы с секторными магнитными

полями..................... 154

Глава 13. Анализаторы с продольными полями..........159

§ 13.1 Спектрометр на основе короткой магнитной линзы 159

§ 13.2. Соленоидальный спектрометр...........166

§ 13.3. Энергоанализатор на основе одиночной симметричной электростатической линзы, погруженной в магнитное поле....................169

ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТЕЙ ТВЕРДЫХ ТЕЛ ПО ЭНЕРГЕТИЧЕСКИМ СПЕКТРАМ ЭЛЕКТРОНОВ 174

Глава 14. Методы исследования поверхности материала, основанные

на вторично-электронной эмиссии........... 174

§ 14.1 Физические принципы методов........... 174

§ 14.2. Электронная оже-спектроскопия......... 176

§ 14.3. Ионизационная электронная спектроскопия... 186 § 14.4. Спектроскопия характеристических потерь энергии электронами и истинно- вторичная электронная спектроскопия................ 188

§ 14.5. Дифракция электронов низкой энергии...... 192

Глава 15. Методы исследования электронных состояний в конденсированных системах, основанные на фотоэлектронной эмиссии 193

§ 15.1. Физические принципы методов.........193

§ 15.2. Рентгеноэлектронная спектроскопия.......194

§ 15.3. Фотоэлектронная спектроскопия.........200

Глава 16. Методы исследования поверхности твердых тел, основанные на ионно-электронной или атомно-электронной эмиссии 204

§ 16.1. Физические принципы.............. 204

§ 16.2. Ионная оже-спектроскопия...........205

§ 16.3. Ионная нейтрализационная спектроскопия... 209

Глава 17. Взаимодействие мощных релятивистских электронных потоков (РЭП) с плазмой................212

§ 17.1. Получение РЭП.................212

§ 17.2. Движение РЭП в вакууме и плазме.........213

§ 17.3. Макроскопическая устойчивость сильноточного

электронного пучка............... 223

§ 17.4. Влияние разброса скоростей электронов в пучке

на взаимодействие с плазмой............225

§ 17.5. Экспериментальное исследование энергетической

структуры РЭП.................230

Приложение 1............................233

Приложение 2............................233

Список литературы...........................235

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце