URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Бриггс Д., Сих М.П. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Пер. с англ.
Id: 2215
 
3999 руб.

Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Пер. с англ.

1987. 600 с. Твердый переплет. Букинист. Состояние: 4+. Есть погашенная библиотечная печать.

 Аннотация

Книга известных специалистов из Великобритании, США, ФРГ и Канады представляет собой детальное и конкретное руководства по применению оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для анализа поверхности. Она является первой учебно-справочной монографией, в которой обобщены результаты огромного числа публикаций по этим вопросам. В первых пяти главах изложены необходимые научные основы методов, в гл. 6-10 рассмотрены их основные применения в важнейших областях современной техники. Для физиков и химиков, занимающихся исследованиями поверхности, инженеров, связанных с технологией работ, аспирантов и студентов.

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце