URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок: Пер. с англ.
Id: 2036
 
2399 руб.

Основы анализа поверхности и тонких пленок: Пер. с англ.

1989. 344 с. Твердый переплет. ISBN 5-03-001017-3. Букинист. Состояние: 5-. .

 Аннотация

Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.

Для специалистов, интересующихся проблемами анализа поверхности и тонких пленок, аспирантов и студентов.

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце