URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Бургуэн Ж., Ланно М. Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты: Пер. с англ.
Id: 1965
 
Букинист. 699 руб.

Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты: Пер. с англ.

1985. 304 с. Мягкая обложка.

 Аннотация

Цель данной книги, написанной французскими учеными, - анализ влияния точечных дефектов на различные физические свойства полупроводников. В книге рассматриваются эффект Яна - Теллера и электронный парамагнитный резонанс, вопросы генерации и рекомбинации носителей тока на примесных центрах.

Предназначена для специалистов, работающих в области физики полупроводников, а также студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце