URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Вишняков В.И ., Вишнякова С.М. Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Id: 193167
 

Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

2014. 32 с. Мягкая обложка. ISBN 978-5-7038-3832-7.
Обращаем Ваше внимание, что книги с пометкой "Предварительный заказ!" невозможно купить сразу. Если такие книги содержатся в Вашем заказе, их цена и стоимость доставки не учитываются в общей стоимости заказа. В течение 1-3 дней по электронной почте или СМС мы уточним наличие этих книг или отсутствие возможности их приобретения и сообщим окончательную стоимость заказа.

 Аннотация

Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде.

Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э. Баумана.


 Содержание

1. Теоретические сведения

1.1. Закономерности явления интерференции света

1.2. Интерференция в тонких пленках

1.3. Кольца Ньютона

2. Экспериментальная часть

2.1. Ознакомление с работой микроскопа

2.2. Определение радиуса кривизны R1 выпуклой поверхности линзы Л1

2.3. Определение радиуса кривизны R2 вогнутой поверхности линзы Л2

2.4. Определение геометрических размеров микропузырьков воздуха в деформированной пластинке слюды

Контрольные вопросы

Приложение. Некоторые понятия теории интерференции

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце