URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Альфорд, Терри Л.; Фельдман, Леонард К.; Майер, Джжеймс В. Фундаментальные основы анализа нанопленок. (Пер. с англ.)
Id: 169824
 

Фундаментальные основы анализа нанопленок. (Пер. с англ.)

2012. 396 с. Твердый переплет. ISBN 978-5-91522-225-9.
Обращаем Ваше внимание, что книги с пометкой "Предварительный заказ!" невозможно купить сразу. Если такие книги содержатся в Вашем заказе, их цена и стоимость доставки не учитываются в общей стоимости заказа. В течение 1-3 дней по электронной почте или СМС мы уточним наличие этих книг или отсутствие возможности их приобретения и сообщим окончательную стоимость заказа.

 Аннотация

Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе.

Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.


 Содержание

Предисловие .......................................................................................................... 10

Глава 1. Основные понятия, единицы измерения, атом Бора ..................... 13

1.1. Введение ..................................................................................................... 13

1.2. Терминология ............................................................................................. 14

1.3. Характерные энергии, единицы измерения и разновидности частиц .. 19

1.4. Корпускулярно-волновой дуализм и периодичность

кристаллической решетки ......................................................................... 22

1.5 Модель Бора ................................................................................................ 23

Задачи ................................................................................................................. 25

Литература ......................................................................................................... 26

Глава 2. Атомные столкновения и спектрометрия

обратного рассеяния ............................................................................. 27

2.1. Введение ..................................................................................................... 27

2.2. Кинематика упругих столкновений.......................................................... 28

2.3. Спектрометрия резерфордовского обратного рассеяния ....................... 32

2.4. Поперечное сечение рассеяния и прицельный параметр ....................... 32

2.5. Рассеяние в центральном поле ................................................................. 35

2.6. Поперечное сечение рассеяния: задача двух тел .................................... 38

2.7. Отклонения от законов резерфордовского рассеяния при низких

и высоких энергиях частиц ........................................................................ 40

2.8. Рассеяние ионов низких энергий ............................................................. 43

2.9. Спектрометрия атомов отдачи, вылетающих вперед ............................. 45

2.10. Преобразования при переходе от системы отсчета, связанной

с центром масс, к лабораторной системе отсчета .................................. 47

Задачи ................................................................................................................. 51

Литература ......................................................................................................... 52

Глава 3. Получение распределений по глубине с помощью

обратного рассеяния с использованием измерений

потерь энергии легких ионов .............................................................. 53

3.1. Введение ..................................................................................................... 536 Оглавление

3.2. Общие закономерности и единицы измерения для потерь энергии ..... 53

3.3. Потери энергии легких ионов высоких энергий в твердых телах ........ 55

3.4. Потери энергии в химических соединениях и правило Брэгга ............. 61

3.5. Ширина энергетического спектра в обратном рассеянии ...................... 62

3.6. Форма спектра обратного рассеяния ........................................................ 65

3.7. Получение распределений по глубине с помощью

резерфордовского рассеяния ...................................................................... 66

3.8. Разрешение по глубине и флуктуации потерь энергии .......................... 68

3.9. Анализ распределения водорода и дейтерия по глубине ....................... 73

3.10. Пробеги ионов водорода и гелия ............................................................ 75

3.11.. Распыление и пределы чувствительности ............................................ 77

3.12. Перечень формул и соотношений рассеяния ........................................ 79

Задачи ................................................................................................................. 79

Литература ......................................................................................................... 81

Глава 4. Профили распыления и масс-спектроскопия

вторичных ионов .................................................................................. 83

4.1. Введение ..................................................................................................... 83

4.2. Общие понятия о процессе распыления ионной бомбардировкой ....... 85

4.3. Ядерные потери энергии ........................................................................... 87

4.4. Выход распыления ..................................................................................... 93

4.5. Масс-спектроскопия вторичных ионов (ВИМС-SIMS) ......................... 95

4.6. Масс-спектроскопия вторичных нейтральных частиц (ВНМС-SNMS) 102

4.7. Избирательное распыление и анализ распределения по глубине ......... 103

4.8. Уширение внутренней границы раздела и ионное перемешивание ..... 106

4.9. Статистическая модель атома Томаса – Ферми ...................................... 108

Задачи ................................................................................................................. 110

Литература ......................................................................................................... 111

Глава 5. Каналирование ионов .......................................................................... 113

5.1. Введение ..................................................................................................... 113

5.2. Каналирование в монокристаллах ........................................................... 113

5.3. Определение расположения примесей в кристаллической решетке .... 118

5.4. Распределение потока каналированных частиц ...................................... 119

5.5. Поверхностное взаимодействие в двухатомной модели ........................ 123

5.6. Поверхностный пик ................................................................................... 127

5.7. Затенение подложки Ag (111) эпитаксиальным Au ................................ 130

5.8. Эпитаксиальный рост ................................................................................ 133

5.9. Анализ тонких пленок ............................................................................... 134

Задачи ................................................................................................................. 135

Литература ......................................................................................................... 1377 Оглавление

Глава 6. Электрон-электронные взаимодействия и чувствительность

анализа с помощью электронной спектроскопии к глубине ........ 138

6.1. Введение ..................................................................................................... 138

6.2. Анализ энергии с помощью методов электронной спектроскопии ...... 138

6.3. Глубина выхода электронов и объем исследуемой области вещества .. 140

6.4. Неупругие электрон-электронные столкновения ................................... 142

6.5. Поперечное сечение ударной электронной ионизации .......................... 144

6.6. Плазмоны .................................................................................................... 146

6.7. Средняя длина свободного пробега электрона ....................................... 147

6.8. Влияние морфологии тонких пленок на уменьшение

выхода электронов ...................................................................................... 149

6.9. Пробег электронов в твердых телах ......................................................... 154

6.10. Спектроскопия энергетических потерь электронов (СЭПЭ-EELS) .... 157

6.11. Тормозное излучение ............................................................................... 161

Задачи ................................................................................................................. 164

Литература ......................................................................................................... 165

Глава 7. Дифракция рентгеновских лучей ...................................................... 166

7.1. Введение ..................................................................................................... 166

7.2. Закон Брэгга в вещественном пространстве ........................................... 167

7.3. Измерение коэффициента теплового расширения .................................. 171

7.4. Определение текстуры в тонких поликристаллических пленках ......... 174

7.5. Измерение деформаций в эпитаксиальных слоях................................... 176

7.6. Кристаллическая структура ...................................................................... 181

7.7. Разрешенные отражения и относительные интенсивности ................... 183

Задачи ................................................................................................................. 191

Литература ......................................................................................................... 193

Глава 8. Дифракция электронов ....................................................................... 194

8.1. Введение ..................................................................................................... 194

8.2. Обратное пространство ............................................................................. 195

8.3. Уравнения Лауэ .......................................................................................... 200

8.4. Закон Брэгга ................................................................................................ 201

8.5. Построение сферы Эвальда ...................................................................... 203

8.6. Электронный микроскоп ........................................................................... 204

8.7. Расшифровка дифрактограмм ................................................................... 211

Задачи ................................................................................................................. 217

Литература ......................................................................................................... 219

Глава 9. Поглощение фотонов в твердых телах и расширенная

рентгеновская спектроскопия поглощения тонкой

структуры (РРСПТС-EXAFS) ............................................................. 220

9.1. Введение ..................................................................................................... 2208 Оглавление

9.2. Уравнение Шредингера ............................................................................. 221

9.3. Волновые функции .................................................................................... 223

9.4. Квантовые числа, электронные конфигурации и обозначения ............. 226

9.5. Вероятность переходов .............................................................................. 228

9.6. Фотоэлектрический эффект в приближении прямоугольной ямы ........ 229

9.7. Вероятность фотоэлектронного перехода

для водородоподобного атома .................................................................. 231

9.8. Поглощение рентгеновского излучения .................................................. 233

9.9. Расширенная рентгеновская спектроскопия поглощения

тонкой структуры (РРСПТС-EXAFS) ...................................................... 238

9.10. Нестационарная теория возмущений ..................................................... 241

Задачи ................................................................................................................. 247

Литература ......................................................................................................... 248

Глава 10. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС-XPS) ... 249

10.1. Введение ................................................................................................... 249

10.2. Экспериментальные методики ............................................................... 250

10.3. Кинетическая энергия фотоэлектронов ................................................. 254

10.4. Энергетический спектр фотоэлектронов ............................................... 256

10.5. Энергия связи и влияние конечных состояний ..................................... 258

10.6. Сдвиги энергии связи – химические сдвиги ......................................... 260

10.7. Количественный анализ .......................................................................... 262

Задачи ................................................................................................................. 264

Литература ......................................................................................................... 265

Глава 11. Излучательные переходы и электронный микроанализ ............ 267

11.1. Введение ................................................................................................... 267

11.2. Обозначения в рентгеновской спектроскопии ...................................... 268

11.3. Дипольные правила отбора ..................................................................... 269

11.4. Электронный микроанализ ..................................................................... 270

11.5. Скорости переходов для спонтанного излучения ................................. 273

11.6. Скорость перехода для Kα излучения никеля ....................................... 274

11.7. Электронный микроанализ: количественные данные .......................... 276

11.8. Рентгеновская эмиссия, возбуждаемая частицами (РЭВЧ-PIXE) ........ 280

11.9. Вывод формулы вероятности излучательных переходов ..................... 283

11.10. Вычисление отношения K

β

/K

α

.............................................................. 285

Задачи ................................................................................................................. 287

Литература ......................................................................................................... 288

Глава 12. Безызлучательные переходы

и Оже-электронная спектроскопия ................................................. 290

12.1. Введение ................................................................................................... 290

12.2. Оже-переходы ........................................................................................... 2919 Оглавление

12.3. Выход Оже-электронов и выход флуоресценции ................................. 299

12.4. Ширина атомных уровней и времена жизней ....................................... 301

12.5. Оже-электронная спектроскопия ............................................................ 302

12.6. Количественный анализ .......................................................................... 306

12.7. Получение профилей распределения концентрации по глубине

с помощью Оже-спектроскопии ............................................................. 308

Задачи ................................................................................................................. 311

Литература ......................................................................................................... 313

Глава 13. Ядерные методики: активационный анализ

и мгновенный анализ наведенной радиоактивности .................. 314

13.1. Введение ................................................................................................... 316

13.2. Значения Q и кинетические энергии ...................................................... 318

13.3. Радиоактивный распад ............................................................................ 322

13.4. Закон радиоактивного распада ............................................................... 325

13.5. Получение радионуклидов ...................................................................... 326

13.6. Активационный анализ ........................................................................... 327

13.7. Мгновенный анализ наведенной радиации ........................................... 329

Задачи ................................................................................................................. 336

Литература ......................................................................................................... 337

Глава 14. Сканирующая зондовая микроскопия ........................................... 339

14.1. Введение ................................................................................................... 339

14.2. Сканирующая туннельная микроскопия ............................................... 342

14.3. Атомно-силовая микроскопия ................................................................ 348

Литература ......................................................................................................... 355

Приложения ....................................................................................................... 356

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце