URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Зевайл А., Томас Дж. Трёхмерная электронная микроскопия в реальном времени (пер.с Англ.)
Id: 154895
 
1430 руб.

Трёхмерная электронная микроскопия в реальном времени (пер.с Англ.)

2013. 376 с. Мягкая обложка. ISBN 978-5-91559-102-7.

 Аннотация

Книга написана двумя признанными авторитетами в области физической химии и биологии – проф. Ахмедом Хасаном Зевайлом из Калифорнийского Технологического Института и проф. Джоном М. Томасом из Оксфордского Университета.

Представленная работа посвящена последним достижениям в электронной микроскопии, которые позволяют современным ученым проводить наблюдения субнанометрических объектов и химических реакций не просто в 3D пространстве, но ещё и в динамике, фиксируя в реальном времени сам процесс перемещения атомов и их взаимодействия друг c другом. Рассмотрены физические принципы, позволяющие проводить прямое наблюдение органических и неорганических объектов на атомарном масштабе и их поведение в ультра коротких временных диапазонах.

На конкретных примерах рассмотрены возможности визуализации объектов с использованием, как отдельных методов электронной микроскопии, так и их сочетания, что в свою очередь существенно повышает информативность и достоверность получаемых данных.

Основная идея авторов – показать, что электронная микроскопия микро- и наномира, даже в самых казалось бы фантастических задачах и исследованиях, не ограничивается более лишь статичной картинкой, что современное развитие технологий визуализации позволяет ученым заглянуть гораздо глубже, как в пространственных масштабах, так и в динамике.

Книга будет чрезвычайно полезной и интересной для всех специалистов, и, в том числе для студентов, чьи профессиональные интересы так или иначе связаны с нанотехнологиями.


 Оглавление

Предисловие

Глава 1.

Ретроспектива: от камеры обскура до изображений в реальном времени

Глава 2.

Понятие когерентности в оптике и электронной оптике

2.1. Когерентность – упрощенное введение

2.2. Оптическая когерентизация состояний атомно-молекулярных систем

2.3. Когерентность при дифракции

2.3.1. Критерий Рэлея и разрешение

2.3.2. Дифракция электронов на атомах и молекулах

2.4. Когерентность и дифракция в кристаллографии

2.5. Когерентность в процессах построения изображения

2.5.1. Базовые подходы

2.5.2. Когерентность источника, продольная и поперечная

2.5.3. Построение изображения в электронной микроскопии

2.6. Приборные факторы, ограничивающие когерентности

Глава 3.

От двумерного к трехмерному структурному изображению.

Основополагающие подходы

3.1. Двумерное и трехмерное изображения

3.2. Электронная кристаллография: комбинация дифракции и изображения

3.3. Высокоразрешающая сканирующая электронная просветная микроскопия

3.3.1. Использование STEM для электронной томографии неорганических материалов

3.4. Биологические и другие органические материалы

3.4.1. Визуализация архитектуры макромолекул при помощи криоэлектронной томографии.

3.5. Спектроскопия потерь энергии электронов (EELS) и изображение при энергетически фильтрованной ТЕМ

3.5.1. Сочетание EELS и ЕТ в клеточной биологии

3.6. Электронная голография

Глава 4.

Приложения двух- и трехмерного изображения и сопутствующих методик

4.1. Введение

4.2. Кристаллография в реальном пространстве посредством HRTEM и HRSTEM.

4.2.1. Капсулированные нанокристаллические структуры

4.2.2. Частицы нанокристаллического платинового катализатора

4.2.3. Микропористые катализаторы и молекулярные сита

4.2.4. Другие цеолитные структуры.

4.2.5. Структуры сложных окисных катализаторов, определенные HRSTEM.

4.2.6. Значение дифракции электронов в определении трехмерной структуры

4.3. Электронная томография.

4.4. Электронная голография

4.5. Электронная кристаллография.

4.5.1. Другие сложные неорганические структуры.

4.5.2. Сложные биологические структуры

4.6. Спектроскопия потери энергии электронами и изображение

4.7. Атомное разрешение ТЕМ при газовом окружении образца

4.7.1. Электронная микроскопия атомного разрешения при внешнем давлении, использующая технологию микроэлектромеханических систем

Глава 5.

Электронное изображение в пространстве и времени (основы)

5.1. Временное разрешение масштаба атомных движений

5.1.1. Корпускулярно-волновой дуализм материи.

5.1.2. Аналогия со светом

5.1.3. Классические атомы: волновые пакеты

5.1.4. Исследование модельного случая: два атома.

5.2. От статической фотографии к сверхскоростному изображению.

5.2.1. Высокоскоростные затворы.

5.2.2. Стробоскопия

5.2.3. Сверхскоростные методики.

5.2.4. Фемтосекундные лазеры

5.3. Одноэлектронное построение изображений.

5.3.1. Когерентность сверхбыстрых пакетов

5.3.2. Возвращаясь к эксперименту с двумя щелями.

5.3.3.Сверхскоростное изображение по сравнению со скоростным.

5.3.4. Невязка скоростей и аттосекундный режим.

5.4. Микроскопия в реальном времени: яркость, когерентность и вырождение.

5.4.1. Объем когерентности и вырождение.

5.4.2. Яркость и вырождение

5.4.3. Когерентность и контраст.

5.4.4. Контраст, доза и разрешение

Глава 6.

Электронное изображение в пространстве и времени (достижения и приложения)

6.1. Достижения Калифорнийского технологического института – краткая история.

6.2. Установки и методики

6.3. Структура, морфология и механика

6.3.1. Динамика изображения (дифракции) избранной площади.

6.3.2. Динамика морфологии: кривизна, зависимая от времени.

6.3.3. Подтверждение принципа: динамика золота.

6.3.4. Модельный случай: графит в реальном времени.

6.3.4.1. Атомные движения

6.3.4.2. Когерентные резонансы в дифракции: продольный модуль Юнга.

6.3.4.3. Резонансы в изображениях: продольная упругость.

6.3.4.4. Появление механического звона: поперечная упругость.

6.3.4.5. Динамика муаровых штрихов.

6.3.4.6. FEELS: фемтосекундная EELS и химические связи.

6.4. Другие приложения (выборочно).

6.4.1. Структурные фазовые переходы

6.4.1.1. Переход проводник-диэлектрик

6.4.1.2. Промежуточные фазы сверхпроводящих соединений меди.

6.4.2. Явления нуклеации и кристаллизации.

6.4.3. Границы раздела и биологические комплексы

6.4.3.1. Вода на гидрофильных и гидрофобных подложках.

6.4.3.2. Двойные слои, фосфолипиды и клетки.

6.4.4. Наномеханические и оптоэлектронные системы

6.4.4.1. Управление пропусканием канала.

6.4.4.2.Функциональные консоли

6.4.4.3. Оптоэлектронные наностержни.

6.4.4.4. Дифракция и поверхностный заряд материалов.

6.5. UEM в реальном времени в сходящихся пучках: нанодифракция

6.6. UEM в реальном времени в ближней зоне: наноструктуры и плазмоника

Глава 7.

Сравнение электронного микроскопа и синхротрона

7.1. Введение

7.2. Рентгеновская просветная микроскопия и микроскопическая томография.

7.2.1. Рентгеновская томография биологических клеток

7.3. Изображение при когерентной дифракции рентгена

7.4. Определение структуры по порошковым образцам

7.4.1. Определение структур ультрамикрокристаллических образцов.

7.4.2. Дифракция рентгена с энергетической дисперсией.

7.4.3. Рентгеновская спектроскопия тонкой структуры (EXAFS).

7.4.4. Комбинация поглощения и дифракции рентгена для изучения порошковых катализаторов.

7.5. Исследование растворенных веществ.

7.6. Статическая и динамическая кристаллография Лауэ.

7.7. Вечная проблема радиационного повреждения.

7.8. Окончательная оценка

Глава 8.

Визуализация в пространстве и времени (прошлое, настоящее и будущее)

8.1. Визуализация и сложность.

8.2. Парадокс сложности: когерентность и созидательный хаос.

8.3. От двух- и трехмерной – к микроскопии в реальном времени.

8.4. Грядущее развитие

8.4.1. Материаловедение

8.4.2. UEM в биологии

8.4.3. Структурная динамика: теория и эксперимент.

8.4.4. Изображение ориентированных и одиночных молекул

8.5. Заключение.

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце