КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Обложка Дунаевский М.С. АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ЗАРАЩЕННЫХ Si,Ge НАНОРАЗМЕРНЫХ ОСТРОВКОВ: ДИАГНОСТИКА И ЗАРЯДОВАЯ НАНОЛИТОГРАФИЯ. Специальность: 01.04.10 - физика полупроводников
Id: 125778
 
Букинист. 259 руб.

АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ЗАРАЩЕННЫХ Si,Ge НАНОРАЗМЕРНЫХ ОСТРОВКОВ: ДИАГНОСТИКА И ЗАРЯДОВАЯ НАНОЛИТОГРАФИЯ. Специальность: 01.04.10 - физика полупроводников

2007. 18 с. Мягкая обложка.
АВТОРЕФЕРАТ В ЕДИНСТВЕННОМ ЭКЗЕМПЛЯРЕ (списание фондов библиотек)