URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Леонов В.В. Анализ методов измерений отклонений от прямолинейности и плоскостности поверхностей
Id: 118467
 

Анализ методов измерений отклонений от прямолинейности и плоскостности поверхностей

1982. 248 с. Мягкая обложка. Букинист. Состояние: 4+. Есть погашенная библиотечная печать.
Обращаем Ваше внимание, что книги с пометкой "Предварительный заказ!" невозможно купить сразу. Если такие книги содержатся в Вашем заказе, их цена и стоимость доставки не учитываются в общей стоимости заказа. В течение 1-3 дней по электронной почте или СМС мы уточним наличие этих книг или отсутствие возможности их приобретения и сообщим окончательную стоимость заказа.

 Аннотация

Книга посвящена комплексному изучению методов измерений отклонений от прямолинейности и плоскостности поверхностей. В ней рассмотрены математические модели макрогеометрии номинально плоских поверхностей и методов измерений. Проанализированы источники погрешностей и потенциальные точностные возможности известных методов, развиты новые методы измерений отклонений от прямолинейности поверхностей и рассмотрены возможности создания средств измерений для их реализации. Обсуждены принципиальные вопросы метрологического обеспечения измерения отклонений от прямолинейности и плоскостности поверхностей в связи с созданием эталонных средств измерений.

Книга рассчитана на исследователей и инженерно-технических работников, занимающихся вопросами обеспечения и контроля качества обрабатываемых поверхностей, на специалистов по линейным и угловым измерениям во всех отраслях машиностроения, приборостроения и в системе Госстандарта. Она может быть полезна также студентам машиностроительных и приборостроительных учебных заведений.


 Оглавление

Предисловие

Глава 1. Современное состояние апланометрии

1.1. Основные понятия

1.2. Современное состояние апланометрии в металлообрабатывающей промышленности

1.3. Современное состояние метрологического обеспечения апланометрии

Глава 2. Исследование макрогеометрии реальных номинально плоских поверхностей

2.1. Нормирование отклонений от плоскостности и прямолинейности

2.2. Профили реальных поверхностей

2.3. Спектральные свойства отклонений формы реальных поверхностей

2.4. Спектральные показатели поверхности

Глава 3. Теоретико-вероятностная модель макрогеометрии поверхностей

3.1. Математическая модель

3.2. Модельные профилограммы поверхностей

3.3. Дифференциальные спектральные характеристики модельных профилей

3.4. Интегральные спектральные показатели поверхностей

Глава 4. Анализ и классификация методов апланометрии

4.1. Структура погрешности измерений

4.2. Приборы для апланометрии

4.3. Классификация методов апланометрии

Глава 5. f-метод апланометрии

5.1. Дискретизация профиля поверхности

5.2. Динамическая погрешность f-метода

5.3. Оптический f-метод апланометрии

Глава 6. d-методы апланометрии

6.1. Шаговый dl-метод

6.2. Автоматизированный d1-метод

6.3. Оптический dl-метод

6.4. d2-метод

Глава 7. Метрологическое обеспечение апланометрии

7.1. Государственная поверочная схема для средств измерений отклонений от прямолинейности и плоскостности

7.2. Государственный специальный эталон

7.3. Вторичные эталоны

7.4. Некоторые вопросы поверки

Список литературы

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце