URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Афанасьев A.M., Александров П.А., Имамов Р.М. Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов
Id: 118147
 

Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов

1986. 96 с. Мягкая обложка. Букинист. Состояние: 4+. Есть погашенная печать расформированной библиотеки.
Обращаем Ваше внимание, что книги с пометкой "Предварительный заказ!" невозможно купить сразу. Если такие книги содержатся в Вашем заказе, их цена и стоимость доставки не учитываются в общей стоимости заказа. В течение 1-3 дней по электронной почте или СМС мы уточним наличие этих книг или отсутствие возможности их приобретения и сообщим окончательную стоимость заказа.

 Аннотация

Изложены основные идеи физики дифракции рентгеновских лучей, направленные на создание методов анализа кристаллической структуры тончайших приповерхностных слоев и границ раздела кристаллов высокой степени совершенства, в первую очередь полупроводниковых кристаллов, являющихся основой современной микроэлектроники.


 Оглавление

Предисловие

Введение

Глава 1. Дифракция рентгеновских лучей в совершенных кристаллах

1.1. Кинематическое и динамическое рассеяние

1.2. Брэгговское отражение совершенным кристаллом

1.3. Когерентность и волновые поля в кристалле

Глава 2. Трехкристальная рентгеновская дифрактометрия

2.1. Двухкристальная схема

2.2. Трехкристальный рентгеновский спектрометр

2.3. Формирование пиков на кривых ТРД

2.4. Метод асимптотической брэгговской дифракции

2.5. Послойный анализ границ раздела

Глава 3. Дифракция рентгеновских лучей в условиях полного внешнего отражения

3.1. Показатель преломления и зеркальное отражение рентгеновских лучей

3.2. Дифракция рентгеновских лучей при зеркальном отражении

3.3. Рентгеновский зеркальный дифрактометр

3.4. Интегральные и дифференциальные дифракционные кривые

3.5. Спектры кристаллов с аморфной поверхностной пленкой

Глава 4. Скользящая геометрия Брэгга --- Лауэ

4.1. Кристаллы с четырехградусным срезом и скользящая схема дифракции

4.2. Определение параметров кристаллической структуры тонких пленок

4.3. Трехкристальная дифрактометрия в скользящей геометрии

4.4. Топография в скользящей геометрии

Глава 5. Метод стоячих рентгеновских волн

5.1. Вторичные излучения при поглощении рентгеновских лучей

5.2. Выход вторичных излучений при брэгговской дифракции. Излучения с большой и малыми длинами выхода

5.3. Чувствительность к малым смещениям поверхности

5.4. Схемы регистрации фотоэлектронов и варьирование глубины выхода

5.5. Проблема восстановления профиля нарушений

5.6. Выход фотоэлектронов при дифракции в скользящей геометрии Лауэ

5.7. Восстановление функции вероятности выхода фотоэлектронов

5.8. Фотоэмиссия в скользящей геометрии Брэгга --- Лауэ

5.9. Кривые выхода для других типов излучения

Заключение

Список литературы

Предметный указатель

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце