URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Вавилов В.С., Горин Б.М., Данилин Н.С. и др. Радиационные методы в твердотельной электронике
Id: 116895
 
1699 руб.

Радиационные методы в твердотельной электронике

1990. 184 с. Мягкая обложка. ISBN 5-256-00741-6. Букинист. Состояние: 4+. Есть погашенная печать расформированной библиотеки.

 Аннотация

В монографии рассмотрены радиационные методы, применяющиеся в технологии изготовления, а также на разных стадиях исследования и эксплуатации микроэлектронных приборов. Показаны возможности расширения сферы применения этих методов на всех этапах изготовления и эксплуатации приборов.

Раскрыты физические механизмы, лежащие в основе радиационных методов, применяемых в микроэлектронике.

Проанализированы механизмы естественного старения (ЕС) приборов и систем микроэлектроники. Проведено разграничение процессов ЕС и вынужденной деградации приборов под действием дестабилизирующих факторов, в том числе ионизирующих излучений. Показано, что выбор радиационных воздействий должен определяться с учетом микроскопических механизмов радиационного дефектообразования.

Разграничиваются по физическим механизмам методы определения радиационной стойкости, радиационной отбраковки приборов и др.

Систематизированы материалы по улучшению параметров готовых приборов радиационными методами (регулирование и доводка параметров).

В связи с задачей радиационного моделирования ЕС рассмотрены механизмы радиационно-стимулированной диффузии, а также подпорогового дефектообразования.

Для научных работников в области электроники.


 Оглавление

Предисловие

Список сокращений

Глава 1. Общая характеристика радиационных методов

1.1. Виды излучений в радиационной технологии

1.2. Радиационно-стимулированные процессы в материалах электронной техники

1.3. Радиационно-стимулированные процессы в приборах твердотельной электроники

1.4. Трансмутационное легирование в микроэлектронике

1.5. Расчеты радиационных дефектов

Глава 2. Радиационные методы испытаний приборов твердотельной электроники

2.1. Испытания приборов на радиационную стойкость

2.2. Радиационные методы определения ресурса приборов

2.3. Радиационная отбраковка приборов

Глава 3. Радиационная обработка приборов электронной техники

3.1. Регулирование параметров биполярных транзисторов

3.2. Регулирование напряжения открывания канала в МОП-структурах

3.3. Регулирование выходных параметров МДП-интегральных микросхем

3.4. Применение 7-излучения в технологии кремниевых диффузионных диодов и высоковольтных столбов

3.5. Другие применения радиационных методов в технологии микроэлектроники

3.6. Некоторые применения лазерных пучков

Глава 4. Механизмы естественного старения приборов твердотельной электроники

4.1. Сравнительная характеристика механизмов естественного старения и вынужденной деградации материалов и приборов

4.2. Физические механизмы естественного старения приборов

4.3. Общие условия лабораторного моделиро;вания естественного старения материалов и приборов

4.4. Лабораторное моделирование деградационньгх процессов в приборах

4.5. Проблема ускоренных испытаний и определения ресурса приборов в условиях нормальной эксплуатации

Глава 5. Кинетика естественного старения приборов твердотельной электроники

5.1. Ближняя кинетика

5.2. Воздействие радиации на ближнюю кинетику

5.3. Радиационно-стимулированная диффузия в приборах твердотельной электроники

5.4. Радиационный и эксплуатационный отжиг приборов электронной техники

5.5. Ближняя кинетика и эффект малых доз облучения приборов

Глава 6. Радиационное моделирование естественного старения материалов и приборов

6.1. Подпороговые механизмы дефектообразования в твердых телах

6.2. Старение квантовых резонаторов, возбуждаемых подпороговой радиацией

6.3. Машинное моделирование радиационных процессов в приборах

6.4. Радиационное моделирование старения PbS-фотоприемников

6.5. Естественное старение полупроводниковых излучателей

Приложение 1. Теория рассеяния и расчеты дефектов

Приложение 2. Диффузионные процессы в микроэлектронике

Приложение 3. Некоторые вопросы теории надежности

Приложение 4. Подпороговые радиационные эффекты в микроэлектронике. Электронные пучки

Заключение

Список литературы

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце