|
Оглавление
 Предисловие......................................... 4 Глава I ПРАКТИЧЕСКАЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ (РЭМ) И РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ (PIA) 1. Физико-технические возможности РЭМ...... 7 2. Области практического применения РЭМ при исследовании сталей и сплавов.......................................... 8 3. Возможности и ограничения рентгеновского микроанализа макро- и микрообъектов..................................... 16 4. Качественный рентгеноспектральный микроанализ с применением компьютерной идентификации рентгеновских спектров..............19 5. Итерационный компьютерный расчет ZAF поправок в РМА для определения элементного состава..............................20 Гпава II РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ (РФС, ЭСХА) 1. Физические основы метода..............................25 2. Количественный анализ состава поверхности твердых тел...........29 3. Исследование электронной структуры и химических связей.........37 4. Подготовка образцов, калибровка спектров....................34 5. Связь РФС с другими методами анализа поверхности.............51 Глава III СПЕКТРОСКОПИЯ ОЖЕЭЛЕКТРОНОВ (ОЭС) 1. Физические основы метода..............................54 2. Количественный анализ в ОЭС............................58 3. Влияние свойств образцов и их повреждения на результаты ОЭС......66 4. Примерь! практического применения ОЭС....................71 5. ОЭС высокого разрешения.............................. 83 6. Сочетание ОЭС с другими методами исследования...............88 Гпава IV СПЕКТРОСКОПИЯ ПОТЕРЬ ЭНЕРГИИ ЭЛЕКТРОНОВ (СПЭ) 1. Проблемы спектроскопии характеристических потерь прошедших электронов (СХП)......................................94 2. Анализ плазмонных потерь при исследовании тонких поверхностных слоев...........................................95 3. Применение в кристаллографических исследованиях поверхности спектроскопии высокого разрешения энергетических потерь электронов (СПЭВР).......................96 4. Применение СПЭ для исследования ближайшего атомного окружения.............. 97 Глава V ДРУГИЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ 1. Масс-спектроскопия вторичных ионов (ВИМС).................116 2. Лазерный микрозондовый анализ (ЛМА).....................122 3. Спектроскопия ионов рассеяния (СИР) (медленные ионы).........126 Приложения.........................................129 Библиографический список................................182 |