URSS.ru - Издательская группа URSS. Научная и учебная литература
Об издательстве Интернет-магазин Контакты Оптовикам и библиотекам Вакансии Пишите нам
КНИГИ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ


 
Вернуться в: Каталог  
Обложка Ковалев А.И., Щербединский Г.В. Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов
Id: 112195
 
1399 руб.

Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов

1989. 192 с. Мягкая обложка. ISBN 5-229-00444-4. Букинист. Состояние: 4+. Есть погашенная библиотечная печать.

 Аннотация

Изложены теоретические основы и последние достижения в области исследования состава и строения поверхности металлов и сплавов методами электронной и ионной спектроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Изложены сведения, необходимые для практического рентгеновского микроанализа элементного состава материалов с привлечением персональных компьютеров. Подробно рассмотрены возможности и ограничения развивающегося метода спектроскопии потерь энергии рассеянных электронов при изучении состава и структуры ближайшего атомного окружения. Приведены методические рекомендации по применению Оже-спект-роскопии и рентгеноэлектронной спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных и рассеянных ионов, лазерного микроанализа при исследовании широкого класса материалов.

Для научных работников, специализирующихся в области материаловедения и физического металловедения, а также инженерно-технических работников исследовательских и центральных заводских лабораторий металлургического и машиностроительного профилей. Ил. 73. Табл. 8. Библиогр. список: 296 назв.


 Оглавление

Предисловие......................................... 4

Глава I

ПРАКТИЧЕСКАЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ (РЭМ) И РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ (PIA)

1. Физико-технические возможности РЭМ...... 7

2. Области практического применения РЭМ при исследовании сталей и сплавов.......................................... 8

3. Возможности и ограничения рентгеновского микроанализа макро- и микрообъектов..................................... 16

4. Качественный рентгеноспектральный микроанализ с применением компьютерной идентификации рентгеновских спектров..............19

5. Итерационный компьютерный расчет ZAF поправок в РМА для определения элементного состава..............................20

Гпава II

РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ (РФС, ЭСХА)

1. Физические основы метода..............................25

2. Количественный анализ состава поверхности твердых тел...........29

3. Исследование электронной структуры и химических связей.........37

4. Подготовка образцов, калибровка спектров....................34

5. Связь РФС с другими методами анализа поверхности.............51

Глава III

СПЕКТРОСКОПИЯ ОЖЕЭЛЕКТРОНОВ (ОЭС)

1. Физические основы метода..............................54

2. Количественный анализ в ОЭС............................58

3. Влияние свойств образцов и их повреждения на результаты ОЭС......66

4. Примерь! практического применения ОЭС....................71

5. ОЭС высокого разрешения.............................. 83

6. Сочетание ОЭС с другими методами исследования...............88

Гпава IV

СПЕКТРОСКОПИЯ ПОТЕРЬ ЭНЕРГИИ ЭЛЕКТРОНОВ (СПЭ)

1. Проблемы спектроскопии характеристических потерь прошедших электронов (СХП)......................................94

2. Анализ плазмонных потерь при исследовании тонких поверхностных слоев...........................................95

3. Применение в кристаллографических исследованиях поверхности спектроскопии высокого разрешения энергетических потерь электронов (СПЭВР).......................96

4. Применение СПЭ для исследования ближайшего атомного окружения.............. 97

Глава V

ДРУГИЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ

1. Масс-спектроскопия вторичных ионов (ВИМС).................116

2. Лазерный микрозондовый анализ (ЛМА).....................122

3. Спектроскопия ионов рассеяния (СИР) (медленные ионы).........126

Приложения.........................................129

Библиографический список................................182

 
© URSS 2016.

Информация о Продавце